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產(chǎn)品中心材料樣品檢測(cè)探針臺(tái)
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產(chǎn)品分類(lèi)
常溫半導(dǎo)體測(cè)試 氣敏測(cè)試 大氣探針臺(tái)是一種用于半導(dǎo)體器件電性能測(cè)試的重要設(shè)備，通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)、高性能的探針針頭和電性能測(cè)試儀器組成。探針臺(tái)可以對(duì)半導(dǎo)體芯片、集成電路和其他微電子器件進(jìn)行直接的電性能測(cè)試，從而為研究和生產(chǎn)提供有價(jià)值的信息。探針臺(tái)主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測(cè)試環(huán)節(jié)，負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位，確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩(wěn)定的信號(hào)，實(shí)現(xiàn)更加精確的數(shù)據(jù)測(cè)試測(cè)量。
更新時(shí)間：2023-10-18
產(chǎn)品型號(hào)：KT-DQTL1
瀏覽量：2064
大氣探針臺(tái) 電信號(hào)測(cè)試是一種用于半導(dǎo)體器件電性能測(cè)試的重要設(shè)備，通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)、高性能的探針針頭和電性能測(cè)試儀器組成。探針臺(tái)可以對(duì)半導(dǎo)體芯片、集成電路和其他微電子器件進(jìn)行直接的電性能測(cè)試，從而為研究和生產(chǎn)提供有價(jià)值的信息。探針臺(tái)主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測(cè)試環(huán)節(jié)，負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位，確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩(wěn)定的信號(hào)，實(shí)現(xiàn)更加精確的數(shù)據(jù)測(cè)試測(cè)量。
更新時(shí)間：2023-10-18產(chǎn)品型號(hào)：KT-DQTL1瀏覽量：1479
常溫探針臺(tái) 電信號(hào)測(cè)試 是一種用于半導(dǎo)體器件電性能測(cè)試的重要設(shè)備，通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)、高性能的探針針頭和電性能測(cè)試儀器組成。探針臺(tái)可以對(duì)半導(dǎo)體芯片、集成電路和其他微電子器件進(jìn)行直接的電性能測(cè)試，從而為研究和生產(chǎn)提供有價(jià)值的信息。探針臺(tái)主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測(cè)試環(huán)節(jié)，負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位，確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩(wěn)定的信號(hào)，實(shí)現(xiàn)更加精確的數(shù)據(jù)測(cè)試測(cè)量。
更新時(shí)間：2023-10-18產(chǎn)品型號(hào)：KT-DQTL1瀏覽量：1546
科研小型氣敏測(cè)試真空探針臺(tái)，可預(yù)留接口以備安裝電子閥及流量計(jì)之用，充入其它氣體使用，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度）
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z4019MRL4T瀏覽量：1643制備LK-99 可選用 微型探針太臺(tái)測(cè)試材料，可預(yù)留接口以備安裝電子閥及流量計(jì)之用，充入其它氣體使用，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度）
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z4019MRL4T瀏覽量：1617
